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技術(shù)文章

X射線熒光光譜儀的產(chǎn)品應(yīng)用特點介紹

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  X射線熒光光譜儀是一種利用X射線照射物質(zhì)后產(chǎn)生熒光現(xiàn)象的儀器,可以用于元素分析和表面化學(xué)分析。其工作原理如下:X射線照射待檢樣品表面,激發(fā)原子內(nèi)部電子躍遷,產(chǎn)生特定波長的熒光輻射,熒光輻射被探測器檢測并轉(zhuǎn)化成電信號,再經(jīng)過信號處理裝置分析、處理和記錄,通過熒光輝譜儀分析熒光發(fā)射的波長和強度,可以確定樣品中的元素種類和含量。X射線熒光光譜儀具有高靈敏度、高準(zhǔn)確度和非破壞性的特點,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬分析等領(lǐng)域。
 
  X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品,產(chǎn)生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進(jìn)行檢測。
 
  XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品,樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候,會放射出特征X光;不同的元素會放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波長特性。檢測器(Detector)接受這些X光,儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對應(yīng)的信號。這一現(xiàn)象廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,特別是在研究金屬,玻璃,陶瓷和建筑材料,以及在地球化學(xué)研究、法醫(yī)學(xué)、電子產(chǎn)品進(jìn)料品管(EURoHS)和考古學(xué)等領(lǐng)域,在某種程度上與原子吸收光譜儀互補,減少工廠附設(shè)的品管實驗室之分析人力投入。
 
  X射線熒光光譜儀的產(chǎn)品特點:
 
  作界面簡單,測量方便,快捷
 
  無損檢測,在無標(biāo)準(zhǔn)樣品時亦可準(zhǔn)確分析
 
  采用139±5eV的高精度分辨率,保證數(shù)據(jù)測量的精度
 
  能夠檢測鹵族元素的準(zhǔn)確含量
 
  同置高清晰攝像頭,可幫助客戶判斷測量的部位
 
  電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序,散熱更好,并能有效的延長X光管的壽命
 
  外觀高貴大方,加大儀器內(nèi)部空間,儀器內(nèi)部通風(fēng)性優(yōu),并有效屏蔽電磁干擾
 
  采用雙峰位快速自動校準(zhǔn)。
 
  自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認(rèn)識分析樣品的組成的定量分析算法,包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗系數(shù)法、理論系數(shù)法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法等,客戶可根據(jù)自已的要求進(jìn)行二次開發(fā),自行開發(fā)任意多個分析方法,設(shè)置了自動安全防護(hù)開關(guān),以確保用戶安全使用。
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